包括SEM扫描电镜和TEM透射电镜，这两种设备能够提供高分辨率的表面和内部结构图像，帮助研究者深入理解材料的微观结构。此外，FIB聚焦离子束加工技术可以实现对材料的精细加工，而离子减薄技术则用于制备透射电镜样品。电子背散射衍射EBSD技术能够提供晶体取向和相分布信息，喷金技术则用于提高样品的导电性，以便进行电子显微镜观察。原子力显微镜（AFM）和光镜技术能够提供表面形貌的详细信息，而超景深显微镜则能够在较大的景深范围内观察样品。