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电磁物理性能测试



一、电学性能测试体系

1. 基础导电特性

  • 电阻率(ρ)
  • 电导率(σ = 1/ρ)

2. 介电性能

  • 介电常数(εᵣ)
  • 介质损耗角正切(tanδ)

3. 半导体特性

  • 载流子浓度与迁移率
  • I-V特性曲线

4. 绝缘性能

  • 击穿场强(kV/mm)
  • 表面/体积电阻率


二、磁学性能测试体系

1. 静态磁特性

  • 磁化曲线(M-H)与磁滞回线
  • 初始磁导率(μᵢ)

2. 动态磁特性

  • 磁损耗分离
  • 复数磁导率频谱

3. 微观磁结构观测

  • 磁畴成像


三、耦合效应与特殊测试

测试目标方法典型案例
磁电耦合系数动态法测量电压-磁场响应Multiferroic材料α~ME~>100 mV/cm·Oe
超导临界参数四引线法测R-T曲线YBCO超导体T~c~=92 K,J~c~>10⁶ A/cm²
巨磁电阻(GMR)效应纳米多层膜电阻-磁场关系Fe/Cr结构ΔR/R>50%


四、核心测试设备与标准

  • 电学主力设备
  • 磁学主力设备
  • 测试标准参考
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